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更新日期：2024-03-17
簡要描述：
日本kjtd超聲波探傷可視化設(shè)備SDSⅢ系列有兩種在不破壞材料內(nèi)部的情況下記錄圖像的方法：X射線探傷和超聲探傷。我們正在開發(fā)結(jié)合了超聲波探傷儀和圖像處理設(shè)備的超聲波探傷儀。
日本kjtd超聲波探傷可視化設(shè)備SDSⅢ系列
有兩種在不破壞材料內(nèi)部的情況下記錄圖像的方法：X射線探傷和超聲探傷。我們正在開發(fā)結(jié)合了超聲波探傷儀和圖像處理設(shè)備的超聲波探傷儀。
超聲波探傷儀的應(yīng)用范圍是檢測半導(dǎo)體內(nèi)部的裂紋，區(qū)分粘附和剝離，檢測新材料（例如精細陶瓷和復(fù)合材料）的空隙和分層，或?qū)︼w機上使用的加工零件進行z終檢查。它已經(jīng)非常廣泛，并且已經(jīng)成功地檢查了異種金屬的接合面。
SDSⅢ系列是一種超聲波探傷可視化設(shè)備，它融合了新的超聲波探傷技術(shù)和圖像處理技術(shù)。配備了z初由KJTD開發(fā)的新高速寬帶超聲探傷儀HIS3。
Windows進行的圖像分析使其更易于使用。
在探傷掃描期間，實時顯示C范圍或B，C范圍，并且在掃描完成后，可以通過原始圖像處理來執(zhí)行分析和評估。除了回波高度和光路顯示之外，我們的原始MURAI處理方法還可以在監(jiān)視器上以二進制，2色，16色或256色各種灰度顯示以及目標缺陷的形式顯示在監(jiān)視器上。可以更清晰地獲得圖像。
日本kjtd超聲波探傷可視化設(shè)備SDSⅢ系列
| 超聲波探傷儀 HIS3 HF | 脈沖輸出 | -200V（空載） |
| 脈沖星下降時間 | 1.0ns以下 | |
| 接收帶 | 1-300 / 5-300MHz | |
| 增益調(diào)整范圍 | 0-71dB / 1dB | |
| 光路測量 | 0-40.96微秒 | |
| CPU控制 | 并行I / O，每個RS232C | |
| 掃描儀 （6軸掃描儀標準規(guī)格） | 掃描范圍（mm） | X：500mm Y：400mm Z：300mm R /轉(zhuǎn)盤φ300θ1 / 110°θ2/±45° |
| 掃描速度 | z大300mm /秒 | |
| 掃描間距 | 0.01至9.99毫米/秒（XYZ） 0.02至9.98°（R：轉(zhuǎn)盤） | |
| 掃描方式 | 平面，側(cè)面，坡度，R面（卡馬霍形狀），圓柱，球面，連續(xù) | |
| 其他 | 掃描區(qū)域示教，點動遙控功能 | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 數(shù)據(jù)收集點 | z多200,000,000點（一次掃描記錄） |
| 數(shù)據(jù)存儲 | ①硬盤②DVD-RW③USB端口 | |
| 保存設(shè)置條件 | HD（故障檢測器和掃描儀設(shè)置）等 | |
| 圖像處理軟件 | 漸變顯示： 兩種顏色之間256級（從1600萬種顏色中選擇可選，包括黑色和白色） 16個色階，256個RYB階 回聲等級： 聲壓級，深度級，MURAI級 實時處理： 平面圖像，橫截面圖像，tou視圖圖像，立體圖像，線框精密缺陷檢測（放大缺陷檢測），圖像內(nèi)測量，放大，光標位置，面積比，設(shè)置顯示，回波高度顯示，回波高度tou視，點數(shù)據(jù)讀取等 局域網(wǎng)兼容 |
