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FUNATECH半導(dǎo)體零件目視檢查燈FY-18 無(wú)極燈
FUNATECH半導(dǎo)體零件目視檢查燈FY-18 外觀因技能水平和個(gè)體差異而異。首先，有必要?jiǎng)?chuàng)造一個(gè)易于看到的環(huán)境。通過(guò)更好的“可視化”，可以抑制人為的工作變化，縮短目視檢查的工作時(shí)間，有效防止不良品流出。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1166
tokina圖麗鹵素?zé)艄鈱?dǎo)光源KTX-100ES 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗鹵素?zé)艄鈱?dǎo)光源KTX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：988
tokina圖麗鹵素?zé)艄饫w光源KTX-100ES 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗鹵素?zé)艄饫w光源KTX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：1015
tokina圖麗鹵素?zé)艄庠碖TX-100ES 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗鹵素?zé)艄庠碖TX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：936
tokina圖麗LED光導(dǎo)光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗LED光導(dǎo)光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無(wú)需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長(zhǎng)選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1001
tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無(wú)需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長(zhǎng)選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：987
tokina圖麗LED光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x
tokina圖麗LED光源KTL-400 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無(wú)需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長(zhǎng)選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：959
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1353
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：2047
YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1296
YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1313
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1337
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1313
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1374
YP-150I表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問量：1318
