發(fā)射率測量儀器TSS-5X-3在遮蓋力測試上的運用的重要性

發(fā)布日期：2025-02-07      瀏覽次數(shù)：192

發(fā)射率測量儀器TSS-5X-3在遮蓋力測試上的運用的重要性

反射率儀是一種利用光學原理進行材料反射率測量的儀器。其工作原理基于光線照射材料表面后的反射和透射現(xiàn)象。通過測量反射光和透射光的強度，可以得到材料在不同波長下的反射率曲線。這一過程是通過高精度的光學元件和靈敏的光電探測器實現(xiàn)的。

遮蓋力測試是評估材料對光的吸收和阻擋能力的一種重要方法。在許多領域，如紡織品、涂料、玻璃等，遮蓋力都是決定材料性能的關鍵因素之一。具體而言，遮蓋力測試通過測量材料對光的吸收程度來判斷其在不同光照條件下的透明度和遮蓋效果，從而影響了材料的可見性、光學性能和實際應用。






TSS-5X-3發(fā)射率測量裝置使您可以在室溫下輕松測量樣品的發(fā)射率。發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，易于閱讀且易于操作。

材料表面處理的定量差異

使用TSS-5X-3，您可以在室溫下輕松測量發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，并且易于閱讀，從而易于操作。


它被廣泛用于空間，半導體，核能和其他領域，從研發(fā)到大眾生產線。




特征

產品功能

• 材料表面處理的定量差異

  了解發(fā)射率使您可以提高加熱設備等的輻射效率，并設計材料，重點是散熱和絕緣材料，這也可以用于節(jié)省能源。

  TSS-5X-3使用兩個參考片（發(fā)射率0.06和0.97），它們具有預先知道的標準發(fā)射率，并允許在室溫下進行易于測量而無需加熱樣品。

  它被廣泛用于空間，半導體，核能和其他領域，從研發(fā)到大眾生產線。

   

• 測量原理

  

  樣品反映了紅外線，其中一些通過小孔進入半球形黑色身體爐的頂點。
  檢測元件以恒定比率檢測其能量。




規(guī)格和光路圖

模型	TSS-5X-3
測量方法	使用紅外檢測的反射能量測量方法
測量波長	2-22μm
測量范圍	發(fā)射率：0.00至1.00
準確性等級	全尺度的±1％
測量區(qū)域	φ15mm
測量距離	12mm（使用檢測頭列的固定方法）
樣品溫度	10-40°C（室溫）
測量值顯示	LED數(shù)字顯示（少數(shù)族裔的第二名）
輸出	0-0.1V，0-1V，全尺度
工作溫度和濕度范圍	10-45℃，35-85℃（無凝結）
力量和力量	AC100-240V，50/60Hz，30W *不包括電源線。請選擇適合您規(guī)格的電源線。
維度和質量	檢測頭部零件：φ51x 137lmm，0.6kg（帶有3000Lmm機器人電纜） 測量零件：156h x 306W x 230dmm（不包括橡膠腳手柄等），5.0kg
配件	發(fā)射率標準儲物箱：84h x 238W x 185dmm，1.1kg 發(fā)射率標準儲物箱：0.06（鏡面），0.97（黑色身體）每件1件